Im, Pesaran ve Shin (IPS, 2003) panel birim kök testinde havuzlanmış veriden hareket edilmesi yerine tüm birimlere ait zaman serilerine ayrı ayrı birim kök testi uygulanmakta ve birimlerin kendi otoregresif parametrelerine sahip olmasına izin verilmektedir. IPS panel birim kök testinde aşağıdaki birinci mertebeden otoregresif süreç kullanılmaktadır (Yerdelen Tatoğlu, 2026, s. 38):
Yᵢₜ = (1 − ϕᵢ)μᵢ + ϕᵢYᵢ,ₜ₋₁ + εᵢₜ

Modelin birinci farkı:
ΔYᵢₜ = αᵢ + βᵢYᵢ,ₜ₋₁ + εᵢₜ

Temel ve alternatif hipotezler:
H₀: βᵢ = 0, tüm i’ler için → hiçbir birim durağan değildir.
H₁: βᵢ < 0, i = 1, 2, ..., N₁; βᵢ = 0, i = N₁+1, ..., N → birimlerden en az biri durağandır.
Alternatif hipotezde βᵢ’nin birimlere göre değişmesine izin verilmesi, testin heterojen yapısını göstermektedir (Yerdelen Tatoğlu, 2026, s. 39).

IPS panel birim kök testi, birimlere özgü DF test istatistiklerinin ortalaması üzerine kuruludur:
t̄ = (1/N) Σᵢ₌₁ᴺ tᵢT

Hatalarda otokorelasyon bulunması durumunda modele gecikmeli farklar eklenerek ADF regresyonundan hareket edilmektedir. Elde edilen ortalama t istatistiği standartlaştırılarak asimptotik standart normal dağılıma sahip test istatistiği elde edilmektedir (Yerdelen Tatoğlu, 2026, ss. 40–41).

IPS testinin temel özellikleri:
- Heterojen otoregresif parametrelere izin vermektedir.
- Panelin dengeli olması şart değildir; ancak birimlere ait zaman serilerinde boşluk bulunmamalıdır.
- Birimlere özgü DF/ADF test istatistiklerinin ortalamasından hareket edilmektedir.
- Hatalarda otokorelasyon bulunması durumunda ADF regresyonu kullanılabilmektedir.
- Test, T ve N'nin sırasıyla sonsuza gittiği durumda asimptotik olarak geçerlidir (Yerdelen Tatoğlu, 2026, s. 41).